背散射電子衍射(EBSD)是一項在掃描電鏡中獲得樣品結晶學信息的技術。EBSD將顯微組織和晶體學分析相結合,可用來測量晶體取向( crystal orientation)、晶界取向差( grain boundary misorientations)、鑒別物相、以及局部晶體完整性的信息。與金相,投射,XRD,掃描等表征手段所得數據相比,EBSD數據信息量非常豐富,而且獲取的晶粒取向信息更直觀。
背散射電子衍射裝置(EBSD):是掃描電子顯微鏡(SEM)的附件之一,它能提供如晶間取向、晶界類型、再結晶晶粒、微織構、相辨別和晶粒尺寸測量等完整的分析數據。EBSD數據來自樣品表面下10-50nm厚的區域,且EBSD樣品檢測時需要傾轉70°,為避免表面高處區域遮擋低處的信號,所以要求EBSD樣品表面“新鮮”、清潔、平整、良好的導電性、無應力等要求。
熱軋帶鋼氧化鐵皮、鋇基壓電陶瓷材料、銅鐵雙相合金、Al及Al合金、含鎳鋼、多相合金、鈦鋁基合金、冷軋深沖汽車薄板、鉭及鉭合金、超純高鉻鐵素體不銹鋼、AlSc濺射靶材、低碳貝氏體鋼中殘余奧氏體、納米非導電涂/鍍層、硬質合金粉末、Cr-Mo鋼、電工硅鋼、薄規格鋼鐵材料、納米陶瓷涂層、鎂基復合材料、熱軋帶鋼氧化鐵皮、超細晶粒氧化物彌散強化鋼、超純高鉻鐵素體不銹鋼、超級馬氏體不銹鋼、銅鐵雙相合金、鋼鐵材料氧化鐵皮、超薄鈮帶、貴金屬超細絲材、CuAl基合金、鐵基合金粉末
1、微觀組織分析:晶粒尺寸、均勻性、有沒有孿晶及孿晶的體積分數、再結晶晶粒及亞晶、晶界特性分析、相鑒定及相分布等。
分析思路:主要通過分析取向分布圖實現,不同顏色晶粒代表不同的取向,晶粒形狀大小反映材料變形或再結晶情況,根據相鄰晶粒夾角確定晶界類型,并用不同的顏色將晶界表示出來。
2、取向分析:相鄰晶粒的取向分析,晶粒和相鄰孿晶的取向分析,孿晶及相鄰孿晶的取向分析,織構分析、取向差分析。
分析思路:兩個相鄰晶??梢杂脷W拉角分析,極圖分析等,大范圍晶粒取向用極圖或反極圖分析。
1、前期咨詢溝通
2、確認檢測項目和樣品數量
3、工程師根據樣品數量和檢測項目精準報價。
4、客戶郵寄樣品或上門取樣。
5、工程師對樣品進行編號整理。
6、雙方確定檢測項目,簽署保密協議書。
7、實驗室分配人員,成立小組,安排檢測項目。
8、7-15個工作日完成實驗。
9、工程師對試驗結果和數據進行整合,出具檢測報告書。
10、將報告以郵寄、傳真、電子郵件等方式送至客戶手中。
11、工程師進行后續相關服務
性能指標改進
產品性能指標不達標,中析研究所工程師對樣品進行具體分析,配方改進,提高產品性能指標。
配方分析
通過光譜、色譜、核磁等精密儀器具體分析樣品成分的化學名稱和成分含量,還原產品配方。
工業診斷
產品不達標時,可通過中析研究所具體分析,確定問題是配方還是雜質原因,最后確立處理方案。
未知物具體分析
對未知物成分的構成、分子結構進行深入剖析,具體分析結果可以協助判定未知物產生的根源。
產品檢驗
提供第三方檢驗服務,如性能指標檢測、產品評估開發、原材料質檢等。
投訴建議:
:010-82491398
報告問題解答:
:010-8646-0567-8
電話:
400-635-0567
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